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10歲男孩做"耐用性實驗"掰壞父親4000美元SSD硬盤

時間:2025-12-18 17:26:21
  • 來源:eteknix
  • 作者:3dm編譯
  • 編輯:文木川

近日,一則來自越南的新聞在社交媒體上引發(fā)全球關注。據硬件媒體報道,一名十歲男孩無意中損壞了父親庫存的50塊固態(tài)硬盤,造成約4000美元的經濟損失。

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事件最初在社交平臺上曝光。一位父親上傳了多張固態(tài)硬盤被折彎損毀的照片,并解釋稱這是他十歲兒子進行“耐用性測試”的結果。照片顯示,這些硬盤已嚴重變形,完全無法正常使用。

經辨認,被損壞的硬件為三星PM991a NVMe M.2固態(tài)硬盤,每塊容量512GB,總計損失存儲空間約25.6TB。按當前市場價格估算,這批硬盤的總價值在3000至4000美元之間。

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該父親在發(fā)帖中無奈表示:“內存、顯卡、SSD、CPU……全都在漲價,漲得比黃金還快?!备磺傻氖?,當前全球NAND閃存行業(yè)正面臨短缺和生產成本上升的困境,導致硬盤更換成本較幾個月前大幅提高。

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從技術角度看,雖然部分硬盤因關鍵元件集中在接口附近而存在一絲“幸存”可能,但由于所有硬盤的印刷電路板已被彎曲成弧形,其商業(yè)價值實際上已歸零。強行將其安裝至標準主板不僅風險極高,也可能帶來安全隱患。

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